กลับหน้าบทความอิเล็กทรอนิกส์ | SE-ED.com | Electronics Society | ThailandIndustry.com | Webboards |
เทคโนโลยี IGBT : ไชยันต์ สุวรรณชีวะศิริ

ที่มา : วารสาร SEMICONDUCTER ฉบับที่ 134 เดือน ¸Ñ¹ÇÒ¤Á ¾.È. 2536

หน้าแรก
ความผูกพันจากของเดิม
โครงสร้างและสัญลักษณ์
สภาวะนำกระแส
สภาวะหยุดนำกระแส
การแลตช์ใน IGBT
การป้องกันการแลตช์
วงจรสมมูล IGBT
ลักษณะการสวิตซ์
พื้นที่การทำงานที่ปลอดภัย



การป้องกันการแลตช์

การหลีกเลี่ยงการแลตช์ของ IGBT สามารถทำได้ทั้งผู้ผลิตและผู้ใช้งานเอง ผู้ผลิตอาจจะออกแบบโครงสร้างในส่วนบริเวณบอดี้ p ให้มีความต้านทานข้างเคียงค่าต่ำที่สุด เพื่อจะได้เพิ่มค่าของ Idm ให้มากที่สุด ซึ่งเป็นการลดโอกาศที่จะเกิดการแลตช์ลงได้

วิธีแรกอาจทำได้โดยลดความกว้างของบริเวณซอร์ส n+ ลง นั่นคือลดค่า Ls ที่แสดงในรูปที่ 2 ลงนั่นเอง

รูปที่ 5 โครงสร้างที่ปรับปรุงเพื่อป้องกันการแลตช์ใน IGBT

วิธีที่สองเป็นการแบ่งระดับความหนาแน่นในการโด๊ปสารของบริเวณบอดี้ p ดังในรูปที่ 5 จะเห็นว่าบริเวณบอดี้ P ภายใต้เกตจะโด๊ปด้วยความหนาแน่นในระดับปกติ 1016 cm -3 และมีความหนาน้อยกว่าของบริเวณซอร์ส n+ แต่ส่วนออื่นที่เหลือของบริเวณบอดี้ p จะโด๊ปด้วยความหนาแน่นที่มากกว่าคือ 1019 cm -3 รวมถึงความหนาก็จะมากกว่า ด้วยการทำเช่นนี้จะทำให้เพิ่มความสารถในการนำกระแสให้สูงขึ้น เป็นการลดความต้านทานข้างเคียงให้น้อยลงได้ สำหรับผู้ใช้งานก็สามารถป้องกันการแลตช์ในโหมดสแตติกได้ โดยออกแบบไม่ให้กระแสที่ไหลในโหลดไหลเกินค่ากระแส Idm และป้องกันการแลตช์ในโหมดไดนามิกได้ โดยหน่วงเวลาขณะหยุดนำกระแสให้ยาวนานขึ้น เพื่อให้โฮลที่ยังค้างอยู่ใน บริเวณ n- มีเวลาพอที่จะรวมกับอิเล็กตรอน เป็นการลดกระแสที่ไหลผ่านความต้านทานข้างเคียงให้น้อยลงได้ การหน่วงเวลาขณะหยุดนำกระแสให้ยาวนานขึ้น ทำได้โดยเพิ่มความต้านทานภายนอกอนุกรมเข้ากับขาเกตของ IGBT


สงวนลิขสิทธิ์
พ.ศ. 2542-2553 โดยบริษัท ซีเอ็ดยูเคชั่น จำกัด (มหาชน)
Copyright © 1999-2010 by SE-EDUCATION Public Company Limited. All rights reserved.